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序號
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課
程 名
稱 |
培
訓(xùn) 目
標(biāo) |
近開課時(shí)間
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學(xué)
期 |
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芯片、集成電路設(shè)計(jì)系列培訓(xùn)班
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C1 |
基于ARM9的SoC芯片設(shè)計(jì)培訓(xùn)班 |
ARM9的SoC芯片設(shè)計(jì)流程及設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)傳授,幫助你快速開展ARM9的芯片設(shè)計(jì) |
2024年11月18日......(歡迎您垂詢，視教育質(zhì)量為生命！) |
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C2 |
Altera ASIC 原型設(shè)計(jì)與HardCopy結(jié)構(gòu)化ASIC培訓(xùn)班 |
通過學(xué)習(xí)掌握Altera ASIC 原型設(shè)計(jì)與HardCopy結(jié)構(gòu)化ASIC |
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C3 |
數(shù)字電視及工業(yè)影像芯片 |
數(shù)字電視及工業(yè)影像芯片設(shè)計(jì)技術(shù) |
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C4 |
數(shù)模混合電路設(shè)計(jì)培訓(xùn)班
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數(shù)�；旌想娐返脑O(shè)計(jì)與測試方法、技巧 |
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C5 |
混合信號測試技術(shù)培訓(xùn)班 |
講解與混合信號有關(guān)的設(shè)計(jì)知識，采樣理論和如何正確采樣模擬信號的原則，如何從設(shè)計(jì)理念到測試設(shè)備來創(chuàng)造一個(gè)模擬信號，后介紹如何從采樣數(shù)據(jù)中選用正確的測試方法并與芯片參數(shù)規(guī)范相聯(lián)系的方法。 |
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C6 |
數(shù)字信號測試技術(shù)培訓(xùn)班 |
這個(gè)課程利用大量數(shù)字器件測試經(jīng)驗(yàn)來解釋測試的概念和技術(shù)。課程提供了先進(jìn)的半導(dǎo)體測試知識的概述，以及測試程序、現(xiàn)場調(diào)試技術(shù)和故障分析等。
詳細(xì)的討論DC、AC和功能性測試的知識。 |
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C7 |
非揮發(fā)性內(nèi)存(NVM)硅智財(cái)(IP)的產(chǎn)品應(yīng)用培訓(xùn)班 |
主要內(nèi)容：電源管理PMIC，語音/家電微控制器MCU，觸控面板Touch panel controller and 機(jī)上盒。 |
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C8 |
Design of ASIP DSP（ASIP DSP 設(shè)計(jì)）培訓(xùn)班 |
ASIP設(shè)計(jì)方法;有限長數(shù)字信號處理;DSP處理器結(jié)構(gòu)與微結(jié)構(gòu);指令集設(shè)計(jì);編程工具設(shè)計(jì);處理器數(shù)據(jù)通道；存儲器子系統(tǒng)；處理器控制通道;嵌入系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)(Application specific instruction set DSP processors) |
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C9 |
SystemC和系統(tǒng)級設(shè)計(jì)方法培訓(xùn)班 |
SystemC和系統(tǒng)級設(shè)計(jì)方法培訓(xùn) |
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C10 |
DFT設(shè)計(jì)流程與Syntest DFT解決方案培訓(xùn) |
DFT設(shè)計(jì)流程與Syntest DFT解決方案 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C11 |
CPU和SoC設(shè)計(jì)和驗(yàn)證技術(shù)培訓(xùn)班 |
CPU和SoC設(shè)計(jì)和驗(yàn)證技術(shù)傳授 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C12 |
時(shí)序及噪音分析培訓(xùn)班 |
時(shí)序及噪音分析 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C13 |
Timing-Driven Verilog Synthesis
for High-Performance System-on-Chip Design |
Timing-Driven Verilog Synthesis
for High-Performance System-on-Chip Design |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C14 |
數(shù)字ASIC設(shè)計(jì)培訓(xùn)班 |
verification平臺建立/功能測試;設(shè)計(jì)綜合（synthesys）與掃描鏈測試(DFT);靜態(tài)時(shí)序分（STA） |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C15 |
Flash Memory Testing培訓(xùn)班 |
NAND Flash 的基本測試方法;NOR Flash 的基本測試方法;常見Flash 測試系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu);Advantest的flash測試系統(tǒng) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C16 |
Be One Lab Functional Verification Methodology and Flow培訓(xùn)班 |
Be One Lab Functional Verification Methodology and Flow培訓(xùn) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C17 |
SoC芯片設(shè)計(jì)解決方案培訓(xùn)班 |
SoC芯片設(shè)計(jì)解決方案培訓(xùn) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C18 |
可擴(kuò)展數(shù)字信號處理器結(jié)構(gòu)培訓(xùn)班 |
可擴(kuò)展數(shù)字信號處理器結(jié)構(gòu)培訓(xùn) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C19 |
應(yīng)用SOC及低功耗技術(shù)的無線IC設(shè)計(jì)培訓(xùn)班 |
SOC的設(shè)計(jì)方法與實(shí)現(xiàn)
低功耗電路的特殊設(shè)計(jì)
各種運(yùn)算電路、濾波電路的設(shè)計(jì)考量
調(diào)制解調(diào)電路的算法與設(shè)計(jì)
傅利葉變換電路的設(shè)計(jì)技巧 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C20 |
IC Physical Design |
介紹基于0.25um及以下工藝的數(shù)字IC設(shè)計(jì)流程和實(shí)現(xiàn)流程以及ASIC設(shè)計(jì)物理版圖方面設(shè)計(jì)的技巧和方法 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C21 |
模擬集成電路設(shè)計(jì)(Analog IC Design) |
電路設(shè)計(jì)模型及設(shè)計(jì)技巧
復(fù)雜電路的特殊處理
高頻模擬電路的特殊設(shè)計(jì) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C22 |
硬件仿真及仿真加速技術(shù)在超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)中的應(yīng)用 |
硬件仿真及仿真加速技術(shù)在超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)中的應(yīng)用 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C23 |
基于SiGe BiCMOS 技術(shù)的射頻/混頻集成電路設(shè)計(jì)、制造及應(yīng)用 |
基于SiGe BiCMOS 技術(shù)的射頻/混頻
集成電路設(shè)計(jì)、制造及應(yīng)用 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C24 |
32位RISC微處理器C*Core及其SOC設(shè)計(jì)培訓(xùn) |
32位RISC微處理器C*Core及其SOC設(shè)計(jì)培訓(xùn) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C25 |
IC設(shè)計(jì)驗(yàn)證的整體解決方案 |
IC設(shè)計(jì)驗(yàn)證的整體解決方案 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C26 |
SOC芯片設(shè)計(jì)系列培訓(xùn)之DFT & Digital IC Testing |
SOC芯片設(shè)計(jì)系列培訓(xùn)之DFT & Digital IC Testing |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C27 |
Runtime IC設(shè)計(jì)流程與資源管理解決方案 |
Runtime IC設(shè)計(jì)流程與資源管理解決方案 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C28 |
Synopsys物理綜合設(shè)計(jì)方法學(xué)和設(shè)計(jì)工具培訓(xùn)班 |
一、基于物理綜合的芯片實(shí)現(xiàn)方案介紹
二、新版物理綜合工具Physical Compiler介紹與使用技巧
三、基于Physical Compiler的設(shè)計(jì)流程演示 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C29 |
集成信息和通訊系統(tǒng)的設(shè)計(jì)技術(shù)研究及其應(yīng)用培訓(xùn)班 |
集成信息和通訊系統(tǒng)的設(shè)計(jì)技術(shù)研究及其應(yīng)用培訓(xùn) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C30 |
Galaxy設(shè)計(jì)平臺高級培訓(xùn)班 |
Galaxy設(shè)計(jì)平臺高級培訓(xùn) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C31 |
Magma NanoTech Symposium培訓(xùn)班 |
Magma NanoTech Symposium培訓(xùn) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C32 |
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智能傳感器SOC設(shè)計(jì)培訓(xùn) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C33 |
0-in ABV ASIC驗(yàn)證方法學(xué)培訓(xùn)班 |
0-in ABV ASIC驗(yàn)證方法學(xué)培訓(xùn) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C34 |
Formality培訓(xùn) |
Formality培訓(xùn) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C35 |
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DFT Compiler培訓(xùn)班 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C36 |
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Low Power Flow HLD (Front End)培訓(xùn)班 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C37 |
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FineSim Essentials培訓(xùn)班
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C38 |
TetraMAX 2-OSM testATPG培訓(xùn)班 |
TetraMAX 2-OSM testATPG培訓(xùn)班 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C39 |
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Custom Designer培訓(xùn)班 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C40 |
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SystemVerilog VMM培訓(xùn)班 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C41 |
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2024年11月18日......(歡迎您垂詢，視教育質(zhì)量為生命！) |
5天；
30學(xué)時(shí) |
C42 |
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sigrity培訓(xùn)班 |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
C43 |
集成電路IC CMOS模塊工藝培訓(xùn) |
集成電路IC CMOS模塊工藝培訓(xùn) |
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5天；
30學(xué)時(shí) |
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總部李老師
